Celaya, Gto., a 11 de agosto de 2015. Estudiantes del Instituto Tecnológico de Celaya de la carrera de  Ingeniería en Mecatrónica, viajaron a Austin, Texas del 3 al 6 de agosto, para acudir a la Jornada anual NI Week 2015, presentado por National Instruments, con la finalidad de certificarse como desarrolladores Asociados de la plataforma de LabVIEW (Laboratory Virtual Instrumentation Engineering Workbench).

El objetivo de  National Instruments es ofrecer  soluciones de hardware, software y tutoriales que prepararan a los estudiantes de ingeniería, impartiendo cursos introductorios al diseño de sistemas avanzados como LabVIEW, que es una plataforma y entorno de desarrollo para diseñar sistemas, con un lenguaje de programación visual gráfico.

Los estudiantes Melissa Karina Zapatero Gutiérrez, Daniel Cipriano Barradas Delfín, Guadalupe Josué Uribe Ramírez, Luis Francisco Rosas Martínez, Roberto Damián Ayala Rosales y Ricardo Domínguez Guevara, obtuvieron la certificación otorgada por National Instruments.

En la capacitación también acudieron los estudiantes Alejandro Abel Jiménez Acosta, Diana García Tepotzotlán, Alejandro Ghenno Barajas, Bernardo Daniel Trujillo Ibarra, Jesús Iván Orizaba Aguilar, José Luis Hernández Silva, Juan Paulo Cisneros Carriedo, Oscar Quiñonez Busquets, Víctor Alberto Espinosa Valladolid.

Este viaje se realizó con el apoyo del Gobierno del Estado a través de Educafin y por el Instituto Tecnológico de Celaya, estuvo coordinado por el M.C. José Juan Martínez Nolasco.

El Instituto Tecnológico de Celaya contribuye e impulsa a sus estudiantes en programas de certificación.

¡Felicidades!